Table-top Scanning Electron Microscope(SEM) EM-30(P)
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제품소개
EM-30은 가장 기본적인 SEM 시스템으로써 SE 검출기를 기본으로 내장하여 제공합니다. BSE 검출기 및 EDS는 옵션으로 추가 가능합니다.100K의 배율과 15nm의 분해능을 제공하는 스탠다드 한 Benchtop SEM으로 기본에 충실하며 가성비 또한 높은 제품입니다.
어플리케이션
| EM-30 | EM-30AX | EM-30+ | EM-30AX+ |
|---|---|---|---|---|
Magnification | 15-150,000X | |||
Spatial Resolution | <5nm at 30kV | |||
Acceleration Voltage | 1 - 30kV (adjustable in 1kV scale) | |||
Electron Source | Pre-Centered Tungsten Filament | |||
Detector | SE | SE,EDS | BSE | BSE, EDS |
Sample Size | 70mm (W) x 45mm (H) | |||
X-Y/T Traverse | 35x35mm / 0 - 45º | |||
Features | Measurement Tool Remote Control | |||
Automation | Focus, Filament, Brightness/Contrast | |||
Data Output Format | jpg, tiff, BMP | |||
Dimensions | 400 x 600 x 550 mm | |||
Weight | 85 kgs | 95 kgs | 85 kgs | 95 kgs |
Options | BSED CoolStage | CoolStage | ||
30mm Active Size Compact Type EDS (Particle Analysis) 30mm Active Size Compact Type EDS (MPO included) | ||||
| 상품명 | Table-top Scanning Electron Microscope(SEM) EM-30(P) |
|---|---|
| 국내·해외배송 | 국내배송 |
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| 배송비 | 4,000원 (500,000원 이상 구매 시 무료) |
| 제조사 | COXEM |
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